産(chǎn)品速遞 | DMS：基于大數據及數據挖掘技(jì )術的半導體(tǐ)芯片測試數據Datalog分(fēn)析與應用(yòng)

2023-09-07 1480

編者按

Editor's note

半導體(tǐ)行業芯片測試，與芯片設計、芯片制造、芯片封裝(zhuāng)并舉稱為(wèi)半導體(tǐ)的四大産(chǎn)業，測試在半導體(tǐ)産(chǎn)業鏈中(zhōng)是不可(kě)或缺的環節。

半導體(tǐ)芯片測試主要包括晶圓級測試（CP測試）、芯片級測試（FT測試）、系統級測試（SLT測試）等，測試是對集成電(diàn)路産(chǎn)品的設計、流片、封裝(zhuāng)各個環節産(chǎn)出品是否合格的檢測，是集成電(diàn)路在電(diàn)子設備整機應用(yòng)時可(kě)以正常安(ān)全工(gōng)作(zuò)的保障。

半導體(tǐ)芯片測試，通常由ATE（Automatic Test Equipment）完成，由于半導體(tǐ)屬于批量制造，ATE産(chǎn)生的數據量非常大，且數據維度豐富，通常一個Lot批次的數據就有(yǒu)幾十個G的大小(xiǎo)，而每天生産(chǎn)線(xiàn)都是數千個批次的持續生産(chǎn)，這樣積累了大量的半導體(tǐ)測試數據。

我們意識到，利用(yòng)諸如AI、機器學(xué)習等技(jì )術來挖掘數據價值，不僅可(kě)以帶來測試效率的提升，保證産(chǎn)品良率，還能(néng)通過數據分(fēn)析優化測試方案，控制成本，同時測試不良品電(diàn)性特征的分(fēn)析也為(wèi)芯片設計改善、制造工(gōng)藝改善提供改善方向。

ATE測試産(chǎn)生的DATALOG數據，多(duō)以STDF(Standard Test Data File)為(wèi)标準格式。STDF文(wén)件裏記錄了360全方位的芯片測試結果，DMS（Data Monitoring System）産(chǎn)品，通過數據挖掘與分(fēn)析技(jì )術，可(kě)以實現基于Lot的分(fēn)析、基于Wafer的分(fēn)析（CP），基于Die（晶圓顆粒）的分(fēn)析，包括每顆産(chǎn)品的每個測試項的數據分(fēn)析，可(kě)以更加清晰、全面地識别芯片産(chǎn)品隐藏的品質(zhì)特征。

下面我們通過DMS軟件對ATE測試文(wén)件的初步分(fēn)析，羅列幾種比較常見的應用(yòng)，也歡迎各位行業從業者一起參與，共同交流。

良率Yield情況(産(chǎn)品健康狀況/成本狀況)：快速生成基于批次号/晶圓批号的良率、不良品、TOP5失效參數及失效率的可(kě)視化應用(yòng)。